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논문제출자 : 학과) 물리학과 , 학번) 19993007, 성명) 김근배, 전공) 광학실험

논문제목 : 국문) 온 전자 거둠율 영상을 이용한 상층 두께의 측정 방법 개발 및 50
나노미터 분해능의 연엑스선 현미경 장치 건설
                영문) Development of Thickness Probing Method of Overlayer Using
Total Electron Yield Mode Image and Construction
                         of 50 nm Resolution Transmission X-ray Microscopy

심사일시 : 2005. 6. 27(월)

심사장소 : 공학3동 201호


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논문제출자 : 학과) 물리학과 , 학번) 19984001, 성명) 김남동, 전공) 고체표면물리실험

논문제목 : 국문) 실리콘 표면 위에 형성된 나노 구조물의 X선 산란 기법을 이용한 연구
                영문) Study Of Nanostructures formed On Si Surface Using X-ray Scattering

심사일시 : 2005. 6. 17(금) 오후 2시

심사장소 : 공학3동 103호
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논문제출자 : 학과) 물리학과, 학번) 20003140, 성명) 양찬호, 전공) 물성물리실험

논문제목 : 국문) 다강체 박막의 오비탈과 자기전기적 성질에 관한 연구
                영문) The Study on Orbital and Magnetoelectric Properties of
Multiferroic Thin Films

심사일시 : 2005. 6. 9(목)

심사장소 : 공학3동 201호